pct試驗(yàn)機(jī)大型生產(chǎn)廠家廣泛應(yīng)用于線路板，多層線路板，IC，LCD，磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測，測試其制品的耐厭性，氣密性。

半導(dǎo)體PCT試驗(yàn)機(jī)設(shè)計(jì)要求具有自動加水功能并且在試驗(yàn)過程中水位過低時自動補(bǔ)水 ，壓力范圍：0.0kg／㎝2～2.8kg／㎝2（相對壓力，鍋內(nèi)壓力），壓力＝1.0kg／㎝2＋0.0kg／㎝2～3.0kg／㎝2（安全壓力容量為4kg／㎝2＝1個大氣壓＋3kg／㎝2）

半導(dǎo)體PCT試驗(yàn)機(jī)廠家價(jià)格雙重過熱保護(hù)裝置，當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時，機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動切斷加熱電源。LED數(shù)字型溫度控制器可作精確試驗(yàn)溫度之設(shè)定、控制及顯示，PID控制誤差±0.1℃。

半導(dǎo)體PCT試驗(yàn)機(jī)設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn)獨(dú)立蒸汽發(fā)生室，避免蒸汽直接衝擊產(chǎn)品，以免造成產(chǎn)品局部破壞。試驗(yàn)前排冷空氣;試驗(yàn)中排冷空氣設(shè)計(jì)（試驗(yàn)桶內(nèi)空氣排出）提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性.

半導(dǎo)體PCT試驗(yàn)機(jī)應(yīng)用觀察窗的設(shè)計(jì),因?yàn)樵谠囼?yàn)的過程中需要時刻注意箱體的情況,所以觀察窗是不是設(shè)置得好對于一次實(shí)驗(yàn)非常的重要,PCT高壓老化試驗(yàn)箱的觀察窗視野非常的大,所以基本能夠滿足實(shí)驗(yàn)需要。

【半導(dǎo)體PCT試驗(yàn)機(jī)指導(dǎo)書可為客戶量身訂制】艾思荔儀器致力于環(huán)境、力學(xué)試驗(yàn)設(shè)備的研發(fā)與生產(chǎn)，ASLI擁有強(qiáng)大的開發(fā)團(tuán)隊(duì)，并取得了多項(xiàng)技術(shù)CE、SGS、ASLI、ISO、TUV、認(rèn)定高新資質(zhì)、艾思荔等證書；

半導(dǎo)體PCT試驗(yàn)機(jī)配電圖熊s試驗(yàn)過程的溫度、濕度、壓力，是真正讀取相關(guān)傳感器的讀值來顯示的，而不是通過溫濕度的飽和蒸汽壓表計(jì)算出來的，能夠真正掌握實(shí)際的試驗(yàn)過程。

半導(dǎo)體PCT試驗(yàn)機(jī)價(jià)格是一家集科研、生產(chǎn)、自主開發(fā)、銷售為一體的專業(yè)半導(dǎo)體PCT試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠家，在東莞市東城區(qū)建有大型生產(chǎn)基地，擁有標(biāo)準(zhǔn)化的半導(dǎo)體PCT試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)車間，年整機(jī)生產(chǎn)能力達(dá)268臺。

半導(dǎo)體PCT試驗(yàn)機(jī)使用在試驗(yàn)過程自動運(yùn)轉(zhuǎn)至完成結(jié)束、使用簡便。雙重過熱保護(hù)裝置，當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時，機(jī)器鳴叫警報(bào)并自動切斷加熱電源。

半導(dǎo)體PCT試驗(yàn)機(jī)銷售廠家:用于在產(chǎn)品的設(shè)計(jì)階段，用于快速產(chǎn)品的缺陷和薄弱環(huán)節(jié)，適合電子、電器、車輛、金屬、化學(xué)、建材、通訊組件、國防工業(yè)、航天工業(yè)、電子芯片IC、IT等物理性變化的測試之用。

【半導(dǎo)體PCT試驗(yàn)機(jī)生產(chǎn)廠家安全裝置：】 1、鍋內(nèi)安全裝置：鍋門若未關(guān)緊則機(jī)器無法啟動。 2、安全閥：當(dāng)鍋內(nèi)壓力超過Zui大工作值自動排氣泄壓。 3、雙重過熱保護(hù)裝置：當(dāng)鍋內(nèi)溫度過高時，機(jī)器嗚叫警 4、報(bào)并自動切斷加熱電源。 5、門蓋保護(hù)：ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸Tang傷。

高壓加速老化壽命試驗(yàn)機(jī)主要是測試產(chǎn)品在高溫、高濕及壓力的氣候環(huán)境下對產(chǎn)品的貯存、運(yùn)輸和使用性能的試驗(yàn)，主要是用于電工、電子產(chǎn)品、元器件、零部件、金屬材料及其它材料在高溫、高濕及壓力的條件下，進(jìn)行物理以及其它相關(guān)性能的測試，測試后，通過檢定來判斷產(chǎn)品的性能是否能夠達(dá)到要求，以便供產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、改進(jìn)、檢定及出廠檢驗(yàn)使用

半導(dǎo)體pct試驗(yàn)機(jī)對IC半導(dǎo)體的可靠度評估項(xiàng)目：DA Epoxy、導(dǎo)線架材料、封膠樹脂腐蝕失效與IC：腐蝕失效(水汽、偏壓、雜質(zhì)離子)會造成IC的鋁線發(fā)生電化學(xué)腐蝕，而導(dǎo)致鋁線開路以及遷移生長。