半導體pct試驗機
更新時間:2023-11-17
半導體pct試驗機對IC半導體的可靠度評估項目:DA Epoxy、導線架材料、封膠樹脂腐蝕失效與IC:腐蝕失效(水汽、偏壓、雜質(zhì)離子)會造成IC的鋁線發(fā)生電化學腐蝕,而導致鋁線開路以及遷移生長。
半導體pct試驗機安全裝置: 高溫蒸煮儀鍋內(nèi)安全裝置:鍋門若未關緊則機器無法啟動。 高溫蒸煮儀安全閥:當鍋內(nèi)壓力超過大工作值自動排氣泄壓。 高溫蒸煮儀雙重過熱保護裝置:當鍋內(nèi)溫度過高時,機器嗚叫警 報并自動切斷加熱電源。 高溫蒸煮儀門蓋保護:ABS材質(zhì)制成可防止操作人員接觸燙傷。 特點: 高溫蒸煮儀具有自動加水功能并且在試驗過程中水位過低時自動補水。 高溫蒸煮儀試驗過程自動運轉(zhuǎn)至完成結(jié)束,使用簡便。 高溫蒸煮儀溫度控制:LED數(shù)字型溫度控制器可作精確試驗溫度之設定、控制及顯示。 高溫蒸煮儀計時器:LED數(shù)字型計時器,當鍋內(nèi)溫度到達後才開始計時以確保試驗*。 高溫蒸煮儀精準的壓力/溫度表隨時顯示鍋內(nèi)壓力與相對溫度。 高溫蒸煮儀運轉(zhuǎn)時流水器自動排出未飽和蒸氣以達到蒸氣品質(zhì)。 高溫蒸煮儀一體成型矽膠門墊圈,氣密度良好,且使用壽命長。 高溫蒸煮儀試驗箱內(nèi)經(jīng)拋光處理經(jīng)久耐用美觀不沾污。 半導體pct試驗機規(guī)格/SPEC: 型 號 PCT - 25 PCT - 35 PCT - 45 PCT - 65 內(nèi)部尺寸(W×H×D)mm Φ250×300 Φ300×450 Φ450×500 Φ650×600 外箱尺寸(W×H×D)mm 500×500×700 650×600×800 800×750×900 950×900×1100 使用溫度 121℃;132℃;(143℃特殊選用) 使用濕度 RH飽和蒸氣濕度 使用蒸氣壓力(壓力) 1個環(huán)境大氣壓 0.0Kg/cm2 -2.0Kg/cm2 ;(3.0Kg/cm2屬于特殊規(guī)格) 循環(huán)方式 水蒸氣自然對流循環(huán) 安全保護裝置 缺水保護,超壓保護、 (具有自動/手動補水功能,自動瀉壓功能) 配 件 不銹鋼隔板兩層 電 源 AC220V,50/60Hz/AC380V ,50/60Hz 《可按客戶要求量身訂制,訂購:》 |
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