可程式恒溫恒濕試驗箱 高低溫試驗箱該系列產(chǎn)品適用于對電工電子、其他產(chǎn)品、零部件、材料塑膠制品、電器、儀表、食品、車輛、金屬、化學(xué)、建材、航天、醫(yī)療、以及各種電子元器件進行高溫、低溫、高低溫漸變，以及溫度循環(huán)變化、表面產(chǎn)生凝露的濕熱條件下使用性能和貯存的適應(yīng)性、等制品檢測質(zhì)量之用。 加熱采用不銹鋼翅片加熱管；升溫、降溫、加濕、去濕獨立，*的BTHC平衡調(diào)溫調(diào)濕方式。制冷系統(tǒng)采用全封閉進口壓縮機組，機械式單級制冷或復(fù)迭低溫回路系統(tǒng)，全自動控制與安全保護協(xié)調(diào)系統(tǒng)。該設(shè)備主要由箱體、制冷系統(tǒng)、加熱系統(tǒng)、空氣循環(huán)系統(tǒng)以及控制系統(tǒng)組成。箱體的高低溫試驗機+高低溫試驗箱外殼為采用霧面不銹鋼，內(nèi)膽采用鏡面不銹鋼板，箱門中間設(shè)大面積觀察窗，并配有觀察燈，使用戶可以清晰地看到試樣的試驗情況。 該試驗設(shè)備主要用于對產(chǎn)品按照標(biāo)準(zhǔn)要求或用戶自定要求，在低溫、高溫、條件下，對產(chǎn)品的物理以及其他相關(guān)特性進行環(huán)境模擬測試，測試后，通過檢測，來判斷產(chǎn)品的性能，是否仍然能夠符合預(yù)定要求，以便供產(chǎn)品設(shè)計、改進、鑒定及出廠檢驗用。該設(shè)備主要是針對于電工、電子產(chǎn)品，以及其原器件，及其它材料在高溫、低溫的環(huán)境下貯存、運輸、使用時的適應(yīng)性試驗。 ●風(fēng)路循環(huán)出風(fēng)回風(fēng)設(shè)計，風(fēng)壓、風(fēng)速均符合測試標(biāo)準(zhǔn)，并可使開門瞬間溫度回穩(wěn)時間快。 ●升溫、降溫、系統(tǒng)*獨立可提高效率，降低測試成本，增長壽命，減低故障率。 ●制冷機采用法國原裝“泰康”全封閉壓縮機。 ●冷凍系統(tǒng)采用單元或二元式低溫回路系統(tǒng)設(shè)計。 ●溫度控制采用全進口觸摸按鍵式儀表，操作設(shè)定簡單。 ●資料及試驗條件輸入后，控制器具有鎖定功能，避免人為觸摸而改變溫度值。 ●采用多翼式送風(fēng)機強力送風(fēng)循環(huán)，避免任何死角，可使測試區(qū)域內(nèi)溫度分布均勻。 ●具有P.I.D自動演算的功能，可將溫度變化條件立即修正，使溫度控制更為精確穩(wěn)定。 ●GB 10589-89 低溫試驗箱技術(shù)條件 ● GB2424.1-89 電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程高溫低溫試驗 ● GB 10592-89 高低溫試驗箱技術(shù)條件 ●GB2423.1-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗A:低溫試驗方法 ● GB2423.2-89 電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程試驗B:高溫試驗方法 ● GB 11158-89 高溫試驗箱技術(shù)條件 ● GB/T5170.2-1996 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗設(shè)備導(dǎo)則 內(nèi)箱尺寸（W*H*D） 40×50×40cm 外箱尺寸（W*H*D） 120×165×115cm ●環(huán)境溫度：5℃～＋28℃（24小時內(nèi)平均溫度≤28℃） ●環(huán)境濕度：≤85%R.H ●操作環(huán)境需要室內(nèi)通風(fēng)良好,機器放置前后左右各80公分不可放置東西; ■主營：可程式恒溫恒濕試驗箱 ,快速溫變試驗設(shè)備,HAST非飽和高壓加速老化壽命試驗機,恒溫恒濕試驗設(shè)備,溫度應(yīng)力篩選試驗設(shè)備,大型恒溫恒濕試驗室,大型老化燒機室,冷熱沖擊試驗設(shè)備, PCT飽和高壓加速老化壽命試驗機,太陽能光伏濕冷凍試驗設(shè)備, 復(fù)合型試驗設(shè)備，UV紫外線老化耐候試驗設(shè)備,高溫烤箱，真空烤箱等，,尖的技術(shù),品質(zhì)優(yōu)良,價格合理, |
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