產(chǎn)品目錄
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PCT-45高壓加速老化試驗(yàn)箱出貨濟(jì)南半導(dǎo)體公司
更新時(shí)間:2021-05-25 點(diǎn)擊次數(shù):931次
PCT-45高壓加速老化試驗(yàn)箱出貨濟(jì)南半導(dǎo)體公司
高壓加速老化試驗(yàn)箱(又名PCT高壓加速老化試驗(yàn)機(jī))主要是測試半導(dǎo)體封裝之濕氣能力,待測產(chǎn)品被置于嚴(yán)苛之溫度、濕度及壓力下測試,濕氣會(huì)沿者膠體或膠體與導(dǎo)線架之接口滲入封裝體,常見之故障方式為主動(dòng)金屬化區(qū)域腐蝕造成之?dāng)嗦?,或封裝體引腳間因污染造成短路等。廣泛應(yīng)用于線路板,多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產(chǎn)品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。內(nèi)膽采用圓弧設(shè)計(jì),符合國家安全容器標(biāo)準(zhǔn),可以防止試驗(yàn)結(jié)露滴水現(xiàn)象,從而避免產(chǎn)品在試驗(yàn)過程中受過熱蒸汽直接沖擊影響試驗(yàn)結(jié)果。