半導體hast老化試驗箱熊s性能：  

1．設定溫度：+100℃～+147℃(蒸氣溫度)  

2．濕度範圍：75~蒸氣濕度(在47℃度時濕度高為75%）  

3．濕度控制穩(wěn)定度：±3%RH  

4．使用壓力：1.2~2.89kg(含1atm)  

5．時間範圍：0Hr～999Hr  

6．加壓時間：0.00Kg～1.04Kg/cm2約45分  

7．溫度波動均勻度：±0.5℃  

8．溫度顯示精度：0.1℃  

9．壓力波動均勻度：±0.1Kg  

10．濕度分佈均度：±3%RH

試驗箱實驗條件：  

1．設定溫度：+100℃～+135℃(飽和蒸氣溫度)  

2．濕度范圍：75~飽和蒸氣濕度0Kg～3.5Kg/cm2(內桶設計耐壓4Kg/cm  

3．時間范圍：000Hr～999Hr  

4．加壓時間：0.00Kg～1.04Kg/cm2約45  

5．測試條件：溫度121℃,RH飽和蒸氣,壓力1.04Kg/c㎡  

半導體hast老化試驗箱裝置特點介紹：  

1．裝置內壓力越大的時候PCT高壓測試儀蒸煮設備箱門唿吁反壓導致其與箱體更加緊密結合,不同于的傳統擠壓式,可延長packing的壽命。  

2．裝置非常好的臨界點LIMIT方式自動安全保護,在出現異常塬因和故障指示燈都會顯示，能夠好的避免因為異常導致損失，甚至導致今天損壞。  

3．裝置采用的是自動門禁，們的自動自動溫度與壓力檢知安全門禁鎖定控制有這安全門把設計已申請在箱內中若出現大于常壓時，測試門會被保護。

試驗箱用途：

半導體hast老化試驗箱又稱高溫高濕高壓試驗機，廣泛應用于半導體，多層線路板,IC,LCD,磁鐵等產品之密封性能的檢測,測試其制品的耐壓性,氣密性。

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